項(xiàng)目名稱：高精度膜厚測(cè)試儀（重新招標(biāo)）

招標(biāo)項(xiàng)目編號(hào)：0722-244FE0013CDF

項(xiàng)目所屬地區(qū)：重慶

招標(biāo)范圍：高精度膜厚測(cè)試儀 1臺(tái)

招標(biāo)機(jī)構(gòu)：中國(guó)遠(yuǎn)東國(guó)際招標(biāo)有限公司

招標(biāo)人：中電科芯片技術(shù)（集團(tuán)）有限公司

開(kāi)標(biāo)時(shí)間：2024-3-29     14:00

公示開(kāi)始時(shí)間：2024-4-3           10：00

評(píng)標(biāo)公示截止時(shí)間：2024-4-9           17:00

中標(biāo)結(jié)果公告時(shí)間：2024-4-10           10:00

中標(biāo)人：寬輔科技股份有限公司